シリコンフォトニクス（SiPh）テストシステムは、PIC（光統合回路）、光電融合デバイスのウエハレベルから大レベル（Bare Die/CoC）にいたる一連の評価、選別を高効率化する量産化テストソリューションです。
主製品 SWT5100 をはじめ、fA/nV クラスの高精度 SMU や高速光／電気シグナルアナライザ（DCA/BERT）を統合。試作から大量生産フェーズまで対応可能な信頼性の高いテスト環境を提供します。