SiPh ウェーハ テストシステム CPO テストシステム WAT&RDL テストシステム HBM KGSD テストシステム 先端半導体

WAT&RDL テストシステム 高 WPH マルチサイト RDL WAT システム【PPT8200】

  • 高スループット並列テスト Per-Pin SMU により2~4サイトの並列測定を実現
    WPH と歩留まりを向上し、テストコストと設置面積を低減
  • 拡張性&柔軟性 外部計測器に対応
    最大48ピンまでフルケルビン接続に対応
  • 超高精度測定 1 pA 級測定
    システムリーク100 fA 未満
  • 幅広い互換性 最大48ピンのプローブカード
    TEL/TSK 製プローバに対応
  • スマートソフトウェア CAL/DIAG/PV、ログ、診断、遠隔監視を統合