WAT＆RDL テストシステム PXle SMU【M3011S / M0204 / M2041】
- APFCによる高速＆高精度制御 負荷に応じたパラメータ設定で応答を最適化
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高精度DC測定
広い電圧・電流測定レンジ（4象限ソース・メジャー動作）
0.1 fA／100 nV の高分解能測定に対応
オートレンジング -
高速測定
最大1 MS/s の ADC サンプリングレート
NPLC を任意に設定可能 -
豊富な測定モード
ローカルセンス／リモートセンスの両方に対応
多様なスイープモード（リニア、ログ、リストなど）に対応 最大8Kポイント
ユーザー定義のソースディレイによる測定に対応
正式な信号名・機能名を確認後に表記（例：8系統の内部トリガー／DIO による同期測定） - 遠隔制御 PC GUI および標準 SCPI に対応
- 保護機能 過温度・過電圧・過電流保護を内蔵
