SiPh ウェーハ テストシステム CPO テストシステム WAT&RDL テストシステム HBM KGSD テストシステム 先端半導体

WAT&RDL テストシステム ベンチトップ SMU【B1202 / B2031】

  • マルチチャネル 最大8チャネル構成に対応
  • 高精度DC測定 広い電圧・電流測定レンジ(4象限ソース・メジャー動作)
    サブ pA/サブμV レベルの高分解能測定
    オートレンジング
  • 高速測定 最大1 MS/s
    ADC、NPLC 設定
  • 豊富な測定モード ローカルセンス/リモートセンスの両方に対応
    多様なスイープモード(リニア、ログ、リストなど)に対応 最大 64K ポイント
    ソースディレイを任意に設定可能
  • 直感的な操作&遠隔制御 操作性に優れた LCD タッチパネル
    PC 上の GUI ツールによるリモート制御に対応
    標準 SCPI プログラミングに対応
  • 保護機能 過温度・過電圧・過電流保護を内蔵