開催期間：2026年9月2日～4日
会場：TaiNEX（台北） ブース T9508
YONATA Electronicsは、「SEMICON Taiwan 2026」において、テストソリューションを紹介しました。
会場での展示や対面でのディスカッションを通じて、YONATA Electronicsの強みである、シリコンフォトニクス・ウェーハ、オプトエレクトロニクス・ベアダイ、CPOモジュールにわたるテストアプリケーションを紹介しました。
YONATAのブースでは、光電子テストソリューションの展示や、業界関係者と活発なディスカッションが行われました。
YONATA Electronicsのテクノロジーイノベーションは、光電子デバイスに関しての高速テストソリューションの提供です。
ウェーハレベルでのスクリーニングやベアダイの評価からモジュールレベルでのシステムテストまで、YONATA Electronicsはサポートしています。
『SEMICON Taiwan 2026』のハイライトは以下のとおりです。
シリコンフォトニクス・ウェーハのテスト
- 光・電気試験：O/O、O/E、E/E試験により、初期のウェーハレベルスクリーニングをサポートします。
- 結合の柔軟性と再現性：高速アライメントを備えた垂直およびエッジ結合により、0.2 dB未満の結合再現性を実現します。
- ウェーハおよび温度対応性：6～12インチのウェーハに対応し、最大150 °Cまでの試験温度に対応します。
- 切り替えとワークフローの統合：プローブカード、ファイバーアレイユニット（FAU）のクイックな交換、高速キャリブレーションとMES統合。
光電子ダイレベル・テスト
- 両面プロービングおよびアクティブカップリング：表（トップ）面と裏（ボトム）面の両側から同時に電気的プロービングと光学的プロービングが可能、かつ、Grating Coupler結合（GC）とEdge Couper（EC）を用いて、KGD（Known-Good-Die）検証をサポートします。
- 並列テストおよび温度制御：最大 4 箇所の並列テストサイトと、25～85 °C のテスト温度範囲保証。
- 検査、クリーニング、トレーサビリティ：6面AOI、プローブ先端の自動クリーニング、およびOCRにより、目視検査とデバイスのトレーサビリティをサポートします。
CPO モジュールの機能テスト
- フルシステムテスト（SLT）：CPO モジュールのシステムレベルの機能検証をおこないます。
- 光ループバック：光ループバック試験により、モジュールの信号伝送を検証します。
- 電気および光インターフェース：電気ソケットおよび光接続により、モジュールレベルのテストをサポートします。
YONATAについて
YONATA Electronicsは、高速な光・電気信号処理、高精度なアナログ測定、およびウェーハ・ダイレベルの自動ハンドリングを組み合わせた、先進的な半導体テストソリューションを提供しています。CPO、シリコンフォトニクス、チプレットなどのアプリケーションに対応し、台湾（新竹）にも拠点を構え、技術コンサルティングやテスト計画からシステム導入に至るまで、お客様を包括的にサポートしています。
YONATAチームは、テストソリューションとアプリケーションのニーズを結びつけ、さらなる技術評価や協業の機会を創出してまいります。
ご来場いただいた皆様、誠にありがとうございました。
テストソリューションやアプリケーション要件についてご相談の際は、YONATAまでお問い合わせください。
